摘要:

    目的：探讨在基于平板探测器DR升级方案中量子探测效率（DQE）检测方法及其应用价值。方法：检测量子探测效率时,将入射X射线剂量与平板探测器产生的图像联系起来,根据国际电工委员会（IEC）制定的IEC 62220-1标准方法对刃钨模体图像进行分析,并结合平板探测器入射X射线空气比释动能的线性关系,利用DQEPro设备及软件计算得出3种不同类型平板探测器升级方案的DQE测试数据。结果：实验证明,通过DQE检测可明确了解DR升级方案中平板探测器的基本性能,DQE检测能反映不同类型的平板探测器的成像性能的优劣。结论：基于平板探测器的DR系统的升级方案中DQE检测,更好地为数字化X射线摄影系统计量性能检定提供技术依据,确保DR升级后在诊断中的成像质量。